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大貫 敏彦
電子情報通信学会技術研究報告, 0, p.8 - 12, 1994/10
放射性核種の地層中移行の遅延機構解明研究について、日本原子力研究所で、最近得られた成果を中心に紹介する。原研では、(1)放射性核種の鉱物への吸着、(2)鉱物の変質過程での放射性核種の再分配に関する研究を行っている。これらの研究成果として、移行の遅延機構として、鉱物の表面への吸着の他に、鉱物の変質過程中における、固定があることを示した。
玉田 正男; 細井 文雄; 大道 英樹; 奥居 徳昌*
電子情報通信学会技術研究報告, 0(25), p.45 - 49, 1994/06
熱フィラメントで重合活性種を発生させる蒸着重合法でN-メチロールアクリルアミド(NMAA)の高分子薄膜を作製した。蒸着重合中の薄膜について反射スペクトルをその場観察した。265Kの基板上ではフィラメントを加熱しない場合、蒸着したNMAAはほとんど再蒸発して、重合は開始されないが、フィラメントを2300Kまで加熱した場合、50%程度重合した高分子薄膜が得られた。この重合は蒸着後も徐々に進行した。基板温度が265K以下の条件での蒸着重合では、比較的高い重合収率の薄膜が得られた。例えば、フィラメント温度2300K、基板温度230Kのとき得られた薄膜の重量平均分子量は2.1
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、重合収率は52%であった。
線照射前後での酸化膜中電荷分布評価岡田 耕平*; 今木 俊昨*; 高橋 芳浩*; 吉川 正人; 大西 一功*
電子情報通信学会技術研究報告, 93(172), p.23 - 27, 1993/07
シリコンMOS構造の放射線照射効果の1つとして、酸化膜中の正の固定電荷の蓄積がある。この固定電荷の捕獲位置は不明瞭であり、電荷捕獲機構についてもわからない点が多い。これらの点を明らかにするためには、酸化膜中の捕獲位置を明らかにする必要がある。今回我々は、フッ酸中に酸化膜を浸析させ酸化膜を傾斜エッチングする技術を開発し、これを用いて同一試料中に酸化膜厚の異なるMOS構造を作製した。各膜厚のミッドギャップ電圧を高周波C-V法を用いて測定し、MOS構造酸化膜中の固定電荷蓄積量と膜厚(膜中の固定電荷の位置)の関連性を追求した。その結果、酸化膜中ではSi/SiO
界面付近に固定電荷が局在し、その量は酸化膜厚に依存しないことがわかった。また照射時の電荷量はMOS構造作製時の酸化温度に大きく依存することが明らかになった。
松本 潔; 村松 健
電子情報通信学会技術研究報告, 92(51), p.33 - 37, 1993/02
確率論的安全評価(PSA)は、原子力発電所の総合的安全性を検討するための有用な手段として世界的に認識されている。既に多くのPSAが実施され、その結果は原子力発電所の設計や規制に広く用いられている。地震PSAとは、地震を起因とする炉心損傷事故発生頻度を評価するPSAであるが、それは2つの理由から重要と考えられている。1つは、地震は起因事象と、その事象が事故に進展することを防止するための安全設備の故障とを、同時に発生させる可能性があることである。もう1つは、地震PSAの結果はたいていの場合大きな不確実さを有することである。本報は、公開文献を基に、日本原子力研究所で行われている地震PSAに関する研究の現状を紹介するものである。
渡邉 憲夫; 小林 健介; 有瀬 幸彦*; 奥田 基*
電子情報通信学会技術研究報告, 87(209), p.15 - 22, 1987/00
事象シーケンス抽出システムは、原子力発電所の事故・故障に関する情報から事象間因果関係や前後関係を計算機を用いて抽出するためのソフトウェアである。本システムは、英語自然文を文法的・意味的に解析し、事象を表わす句節を認識すると共に、これら事象の間にある因果関係や前後関係を規定する。